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光學(xué)儀器
熒光儀/熒光檢測(cè)儀
GR/JSX-3400R能量分散型X射線熒光分析儀 元素分析儀北京

能量分散型X射線熒光分析儀 元素分析儀北京
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
product
產(chǎn)品分類能量分散型X射線熒光分析儀 元素分析儀
型號(hào):GR/JSX-3400R
新型號(hào)x射線熒光光譜儀,是日本電子株式會(huì)社2006年6月的升級(jí)版能量色散型光譜儀,是一直以來(lái)受用戶好評(píng)的基礎(chǔ)上,進(jìn)一步升級(jí)產(chǎn)品。該設(shè)備具有出眾性能指標(biāo),不僅能很好對(duì)應(yīng)rohs指令、elv指令和其它環(huán)境指令相關(guān)元系分析,指令以外的一般元素也能在高感度下測(cè)試分析。
主要特點(diǎn):液氮制冷型探頭、世界zui高探頭等分辨率、同等時(shí)間內(nèi)zui高檢出限度、測(cè)試時(shí)間短、各類優(yōu)異軟件、能量過(guò)濾裝置等。該產(chǎn)品世界各地,在同類型產(chǎn)品中性能,其穩(wěn)定優(yōu)異性能深受廣大用戶的好評(píng)與青睞。
特點(diǎn)
* 短距離傳導(dǎo)光路
* zui高分辨率檢測(cè)探頭
* 低檢測(cè)下限
* 短測(cè)試時(shí)間
* 射線過(guò)濾機(jī)構(gòu)
* 補(bǔ)正檢量線法
* 簡(jiǎn)單的操作界面
* 膜厚測(cè)定軟件
* 焊錫鍍層成分分析軟件
規(guī)格:
分析范圍: na to u(cd,pb,cr,hg,br)
x射線管: rh-tube,50kv-1.0ma
樣品室: 300mmφ-160mmh
樣品托: 1, 16(選購(gòu))
準(zhǔn)直器: ф 1mm;ф3mm; ф7mm
過(guò)濾器: 4種
樣品環(huán)境: 大氣,真空(選購(gòu))
軟 件: 環(huán)境分析軟件包
日本電子制造的JSX-3400R是靈敏度和操作性大幅提高的能量分散型x射線熒光分析儀,不僅可用于一般性分析,還可用于rohs與elv的審查與驗(yàn)收分析
此款分析儀應(yīng)對(duì)EU(歐盟)電器及電子設(shè)備廢料回收(WEEE)和特定有害物質(zhì)的使用限制(RoHS)指令。
采用新式光學(xué)系統(tǒng)、高能X射線發(fā)生源、高分解能探測(cè)器,可以檢測(cè)塑料、包裝材料、顏料中鎘(Cd)、鉛(Pb)、水銀(Hg)、鉻(Cr)等特定有害物質(zhì)和砷(As)等有毒物質(zhì),檢測(cè)精度達(dá)到ppm數(shù)量級(jí)。